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07.05.2010: Die Unternehmen Sensofar-Tech, Terrassa, Spanien und Leica Microsystems (Schweiz AG) haben die Ausweitung der Zusammenarbeit im Bereich Oberflächenmesstechnik vereinbart. Im Rahmen des Kooperationsvertrages liefert Sensofar Technologie und Komponenten für ein optisches System, das die Leica Produktlinie für industrielle Anwendungen ergänzt. Leica Microsystems nutzt die Technologie von Sensofar und ergänzt sie um eigene High-End-Objektive für eine innovative Komplettlösung, die anspruchsvolles optisches Profiling und nanometergenaue 3D-Oberflächenmessungen ermöglicht.
Das Leica DCM 3D Dual-Core 3D-Messmikroskop verbindet Konfokalmikroskopie, Interferometrie und Farbbildgebung in einem Sensorkopf. Zwei LED-Lichtquellen und die neuartige konfokale Microdisplay-Technik, die ohne mechanisch bewegliche Teile auskommt, sorgen dafür, dass das Messsystem nahezu wartungsfrei ist. Das System eignet sich für vielfältige Messanwendungen in F&E- und Qualitätssicherungslabors bis hin zu automatisierten Online-Prozesskontrollen.
Die Kooperation zischen Sensofar und Leica Microsystems basiert auf einem erfolgreichen Pilotprojekt, das 2008 für den europäischen Markt gestartet worden ist. Mehrere Leica DCM 3D Systeme wurden während der Pilotphase bereits verkauft. Beide Unternehmen wollen nun die Zusammenarbeit ausbauen, zusätzliche Märkte erschließen und die Technologie gemeinsam weiterentwickeln.
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Sensofar-Tech und Leica Microsystems erweitern ihre Kooperation
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