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14.12.2011: Malvern Instruments veranstaltete am Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnik (IWW) der TU Chemnitz einen Workshop zum Thema „Angewandte Partikelmesstechnik“. Viele Teilnehmer von Universitäten und aus der Industrie nahmen an dem Seminar teil. Durch die Vorträge und die Diskussion war es allen Teilnehmern möglich, einen Einblick in die verschiedenen Messmethoden und deren Anwendung zu erhalten. Besonders begrüßt wurde die inhaltliche Ausrichtung auf die Grundlagen sowie die apparativen Möglichkeiten zur Partikelmessung.
Die Themen des Seminars waren:
Nach der Begrüßung der Teilnehmer und einer Vorstellung des Institutes für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnik durch Herrn Professor Lampke, referierte Jan Schubert von Malvern Instruments über eine häufig angewandte Messmethode für Partikelgrößen, die „Laserbeugung“. Sie wird zur Charakterisierung von Suspensionen, Emulsionen und Pulvern, im Bereich einige 100 nm bis einige Millimeter eingesetzt. Der Vortrag erläuterte die Grundlagen der Methode und anhand von Beispielen aus der Praxis wurden Vorteile, Grenzen und Fehlerquellen dieser Methode aufgezeigt und diskutiert.
Um die „Dynamische Lichtstreuung und das Zetapotenzial“ ging es im Vortrag von Dr. Rolf Nitzsche. Diese beiden Messmethoden werden zur Charakterisierung von nanoskaligen Suspensionen und Emulsionen eingesetzt. Die Partikelgröße wie auch die Oberflächenladung können bestimmt werden. Der Vortrag erläuterte die Grundlagen der Methoden. Anhand von Beispielen aus der Praxis wurden auch hier Vorteile, Grenzen und Fehlerquellen dieser Methoden aufgezeigt und diskutiert.
Abgerundet wurde dieser Vortrag durch einen anwendungsbezogenen Vortrag von Herrn Dr. rer. nat. Daniel Wett (IWW) über druckbare Aluminium-Nanopartikelsuspensionen bei deren Herstellung die Dynamische Lichtstreuung zur Charakterisierung der Partikelgröße zum Einsatz kommt.
Zum Abschluss der Vortragsreihe berichtete Rolf Weiser (Malvern Instruments) über die automatisierte Bildanalyse. Bildanalysesysteme liefern zusätzlich zur Partikelgröße auch Aussagen über die Partikelform. Durch eine sehr hohe Sensitivität ist u.a. die Detektion kleinster Probenunterschiede möglich. Im Vortrag wurden zwei einzigartige, vollautomatisierte Bildanalyse-Messsysteme vorgestellt. Das eine mit Schwerpunkt Pulvermessung, das andere mit dem Schwerpunkt Suspensions- und Emulsionsmessung. Messbeispiele mit der Thematik Partikelform, Partikelzählung und Fremdpartikeldetektion rundeten den Vortrag ab.
Am Nachmittag hatte man dann die Möglichkeit in kleinen Gruppen an allen drei vorgestellten Messsystemen (Laserbeugung, Dynamische Lichtstreuung, Automatisierte Bildanalyse) mitgebrachte Proben live messen zu lassen sowie detaillierte Fragen zu spezifischen Messproblemen zu stellen.
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