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2 Aktuelle News von Fraunhofer-Institut IISB

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Hochgenaue Charakterisierung dünnster dielektrischer Schichten

Deutsch-Italienische Halbleiterforschung

08.06.2012

Im Rahmen einer binationalen Masterarbeit wurde am Fraunhofer IISB in Erlangen eine neuartige Messmethode zur Charakterisierung ultradünner dielektrischer Schichten optimiert. Anna Alessandri von der Universität „Politecnico di Milano“ arbeitete zusammen mit Wissenschaftlern des IISB an der ...

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Akkreditiertes Analytik-Labor für die Mikro- und Nanotechnologie am Fraunhofer IISB

05.02.2010

Das Analytik-Labor für Mikro- und Nanotechnologie am Erlanger Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB wurde durch die Deutsche Gesellschaft für Akkreditierung nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 akkreditiert. Das Prüflabor in Erlangen führt Tests im Bereich ...

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