Das flexibelste Raman-Mikroskop für Forschungsanwendungen

Renishaws inVia Raman-Mikroskope sind hochleistungsfähige Spektrometer

von Renishaw GmbH

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Renishaws inVia Raman-Mikroskop verbindet bewährte Langzeitstabilität mit einer hohen Flexibilität für künftige Projekte.

inVia 3D-Imaging eines Mehrphaseneinschlusses in Quarz: Innerhalb des Einschlusses befinden sich gasförmiges CO2/H2S (blau), flüssiges CO2 (grün) sowie Schwefelfragmente (rot), die allesamt von einer wässrigen Phase (nicht dargestellt) umgeben sind.

Das inVia Raman-Mikroskop von Renishaw ist inzwischen das weltweit meistverkaufte Raman-System zu Forschungszwecken.

inVia 3D-Imaging von Spannung in einem Rubin Die Frequenz des Chrom-R2-Photolumineszenzbands von Rubin kann zur Aufdeckung von Spannungen innerhalb des Rubins verwendet werden.

inVia Raman-Mikroskope sind höchst leistungsfähige Systeme mit integrierten professionellen Mikroskopen, sodass hochauflösende (spektral sowie lateral) konfokale Messungen

Das konfokale inVia Raman-Mikroskop ist inzwischen das weltweit meistverkaufte bildgebende Raman-System für Forschungszwecke.

Das integrierte hochauflösende Bildgebungsverfahren StreamLine™ Plus beschleunigt Ihr 3D Raman Imaging deutlich:

bis zu 200 x schneller als Einzelpunkt-Mapping
mehr als 4.000 Spektren pro Minute
Spektralauflösung von weniger als 1 cm^-1
unterstützt alle Wellenlängen von UV bis NIR

Anwender aus den Bereichen Pharmazie, Forensik, Nano- und Halbleitertechnologie, Materialkunde, Biowissenschaften oder Medizin profitieren heute mit Renishaw von einem gesteigerten Probendurchsatz und bleiben stets flexibel für die Anforderungen künftiger Projekte.

Das InVia-Konzept verbindet die bewährte Langzeitstabilität mit einer hohen Flexibilität des gesamten Systems. Je nach Anforderung können Funktionalität, zusätzliche Laserquellen und der Automatisierungsgrad auch zu einem späteren Zeitpunkt problemlos erweitert werden.

Renishaws Kopplungstechnik ermöglicht zudem die Kombination mit der Rastersonden-Mikroskopie, spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS), Nahfeld-Verfahren (SNOM, NSOM) sowie Raman-AFM zur verbesserte Probenanalyse der chemischen und strukturellen Materialeigenschaften im Submikrometerbereich.

Das breite Portfolio an verfügbaren optischen Komponenten und die Steuerung aller wichtigen Parameter über die Software machen das inVia Raman-Mikroskop von Renishaw zu einem industrietauglichen und höchst leistungsfähigen System für Forschungszwecke und für die Analyse.

Für weitere Informationen besuchen Sie bitte unsere Produktwebsite, laden Sie sich unsere Produktbroschüre herunter oder kontaktieren Sie uns!

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