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Topographisches Raman Imaging - Chemisches Imaging entlang der Oberfläche von großen Proben

von WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH

Mit der neuen True Surface Raman Imaging Option von WITec ist es erstmals möglich, die chemischen Eigenschaften exakt entlang der Oberfläche von sehr rauen oder stark verkippten Proben darzustellen.

Kernstück dieser Technik ist ein optisches Profilometer, das die Vermessung der Oberflächentopographie mit einer Tiefenauflösung von bis zu 12 nm erlaubt und Bildern von der Probentopographie erzeugt. Entlang diesen Topographiekoordinaten kann dann eine konfokale Raman Messung durchgeführt werden.

Bei entsprechender Auswertung erhält man ein Bild von der strukturellen Verteilung der chemischen Komponenten auf der Oberfläche. Auch relativ große Probenbereiche mit einigen Zentimetern Kantenlänge lassen sich damit noch sehr gut untersuchen.

Die True Surface Imaging Option ist vollständig in die WITec Softwareumgebung integriert, so dass höchster Bedienkomfort gewährleistet ist. Diese Integration eines optischen Profilometers in die WITec alpha500 Raman/AFM Mikroskop Serie ist somit der nächsten Evolutionsschritt in einer ganzen Reihe von modularen und innovativen Mikroskopie-Kombinationen von WITec.

Anwendungen für diese neue Abbildungstechnik finden sich nicht nur in der Pharmazeutischen Forschung sonder unter anderem auch in den Bereichen Medizintechnik, Geowissenschaften, Mikroelektronink, Photovoltaik oder funktionelle Oberflächenbeschichtungen.


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