Meine Merkliste
my.chemie.de  
Login  

XPS-System mit integrierten Nexsa-Technologien

Vollautomatisches und kompaktes System, hoher Durchsatz mit Ergebnissen von Forschungsqualität

Das Thermo Scientific™ Nexsa™ XPS-System bietet eine vollautomatische Analyse mit mehreren Technologien mi einem hohen Durchsatz, ohne die Qualität der Forschungsergebnisse zu beeinträchtigen. Durch die Integration verschiedener Analysetechniken wie ISS, UPS, REELS und Raman können Anwender eine echte Korrelationsanalyse durchführen und so das Potenzial für weitere Fortschritte in der Mikroelektronik, bei ultradünnen Schichten, in der Entwicklung der Nanotechnologie und vielen anderen Anwendungen erschließen.


Materialanalyse und -entwicklung

Das Nexsa-Spektrometer bietet Ihnen Flexibilität, um die Möglichkeiten Ihres Materials zu optimieren. Flexibilität in Form mehrfach integrierter technischer Optionen für eine echte korrelative Datenanalyse und hohen Durchsatz bei Ergebnissen von gleichbleibend hoher Forschungsqualität.

Produktmerkmale:

  • Isolatoranalyse
  • Hochleistungsspektroskopie
  • Tiefenprofilierung
  • Integration mehrerer Technologien
  • Dualmodus-Ionenquelle für erweiterte Tiefenprofilierung
  • Kippmodul für ARXPS-Messungen
  • Avantage-Software für Instrumentensteuerung, Datenverarbeitung und Berichterstellung
  • Kleinpunktanalyse

 Anwendungen:

  • Glasbeschichtungen
  • Polymere
  • Batterien
  • Graphen
  • Solarzellen
  • OLEDs
  • Metalle und Oxide
  • Bio-Oberflächen
  • Dünne Folien
  • Halbleiter
  • Keramik
  • Katalysatoren
  • Nanomaterialien

Optionale Upgrades:

  • RAMAN: Spektroskopische Technik, die in der Chemie verwendet wird, um einen strukturellen Fingerabdruck zu erhalten
  • ISS: Die ionenstreuende Spektroskopie ist eine Technik, bei der ein Ionenstrahl durch eine Oberfläche gestreut wird
  • UPS: Die ultraviolette Photoelektronenspektroskopie bezieht sich auf die Messung der kinetischen Energiespektren von Photoelektronen, welche von Molekülen emittiert werden, die ultraviolette Photonen absorbiert haben, um die molekularen Orbitalenergien im Valenzbereich zu bestimmen
  • REELS: Die reflektierte Elektronen-Energieverlustspektroskopie liefert Informationen zur elektronischen Struktur und kann die Präsenz von Wasserstoff messen

SnapMap-Funktion

Rücken Sie Probenmerkmale mit der optischen SnapMap-Ansicht in den Fokus. Mit der optischen Ansicht können Sie interessante Punktebereiche schnell erfassen, während Sie ein vollständig fokussiertes XPS-Bild entwickeln, um Ihr Experiment weiter zu definieren.

1. Röntgenstrahlen beleuchten einen kleinen Bereich der Probe.

2. Photoelektronen aus diesem kleinen Bereich werden gesammelt und in den Analysator fokussiert

3. Spektren werden bei sich bewegender Plattform kontinuierlich erfasst

4. Position der Plattform wird während der Datenerfassung überwacht und die Positionen zur Generierung von SnapMap verwendet

Fordern Sie jetzt weitere Informationen an oder laden Sie sich unsere Broschüre herunter.


Themen:
  • Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie
  • Röntgen-Photoelektronenspektrometer-Systeme
  • Tiefenprofilierung
  • Isolatoranalyse
  • XPS-Spektrometer
  • Raman-Spektroskopie
  • Korrelationsanalyse
  • Materialanalytik
  • reflektierte Elektronen-Energieverlustspektroskopie
  • ultraviolette Photoelektronenspektroskopie
  • ionenstreuende Spektroskopie
  • ISS
  • UPS
  • REELS
  • Nanotechnologie
Mehr über Thermo Fisher Scientific
Ihr Bowser ist nicht aktuell. Microsoft Internet Explorer 6.0 unterstützt einige Funktionen auf Chemie.DE nicht.