HELOS: Partikelgrößenanalyse von 0,1 µm bis 8.750 µm mit bis zu 217 Messpunkten
Die bewährte HELOS-Laserbeugungsserie mit dem unerreichten Trockendispergierer RODOS bietet seit über 25 Jahren eine zuverlässige Technologie zur Analyse mehr
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HELOS/BR mit RODOS zur Partikelgrößenanalyse feinster trockener Pulver.
HELOS/BR mit QUIXEL zur Partikelgrößenanalyse von Suspensionen und Emulsionen.
HELOS/KR mit OASIS (RODOS & SUCELL) zur kombinierten Partikelgrößenanalyse von trockenen Pulvern sowie Suspensionen und Emulsionen.
Die bewährte HELOS-Laserbeugungsserie der Firma Sympatec mit dem unerreichten Trockendispergierer RODOS bietet seit über 25 Jahren eine zuverlässige Technologie zur Analyse von Partikelgrößenverteilungen in Pulvern, Aerosolen, Sprays, Suspension und vielen weiteren dispersen Kollektiven. Das modulare Systemkonzept baut mittels zahlreicher Dispergier- und Dosiersysteme produktorientierte Applikationsbrücken: trockene Produkte sollen trocken dispergiert, Suspensionen entsprechend nass analysiert werden und Sprays natürlich auch als Aerosole.
Verfügbare Dispergierer und Dosierer – modulare Vielfalt (Anwendungsbereiche)
Einzigartig an den HELOS-Sensoren ist die ausschließliche Verwendung der klassischen Laserbeugung im parallelen Strahlengang mit der konsequenten Anordnung aller optischen Komponenten entlang der optischen Achse zur Auswertung der Vorwärtsstreuung unter flachen Winkeln (Low Angle Laser Light Scattering (LALLS)). Dies garantiert eine hohe Zuverlässigkeit der Messung und eine sehr gute Vergleichbarkeit der Messsysteme untereinander. Durch die Verwendung hochwertiger optischer Module lässt sich für die zu charakterisierenden Proben der optimale Messbereich mit maximaler Auflösung wählen. Es stehen bis zu 8, sich harmonisch ergänzende Brennweiten zur Verfügung, die mittels Multielementdetektor jeweils 31 Messwerte liefern.
Mit der neuen R-Serie wurden die Optionen der HELOS-Sensoren entscheidend um die neue automatische Messbereichsverknüpfung erweitert und ermöglichen jetzt eine geschlossene Analyse auch extrem breiter Verteilungen im Verhältnis x90/x10 > 1.000. Dabei können bis zu vier unabhängige Messbereiche von 0,1 µm bis zu 8.750 µm in einer Messung automatisch angesteuert werden. Aus den dann bis zu 124 aufgenommenen Intensitäten wird eine Korngrößenverteilung über den gesamten Messbereich in bis zu 62 Klassen je nach Überlappung der Messbereiche ausgegeben.
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