Leistungsfähiges „All-in-One“-Elektronenmikroskop mit integrierter Elementanalyse

LOT-QuantumDesign GmbH ist exklusiver Distributor für Phenom Desktop-Rasterelektronenmikroskope in Deutschland.

Mit aktuell drei Varianten (Phenom G2 pure, Phenom G2 pro und Phenom Pro X) bieten wir vom kostengünstigen Einstiegssystem bis zum All-in-One-System mit intergierter EDX-Analyse eine breite Auswahl an Desktop-Rasterelektronenmikroskopen.

Einige wesentlichen Gründe für Desktop-Systeme sind:

• Erweiterung der Mikroskopie oberhalb der lichtoptischen Systeme
  inklusive Elementanalyse.
• Ersatz für alte, nicht mehr wartungsfähige Elektronenmikroskope.
• Dezentrale, ggf. mobile Verfügbarkeit von REM-Kapazitäten.
• Schnelligkeit und leichte Bedienung.
• Zeitgewinn bei Produktentwicklung und Qualitätssicherung.

Phenom Desktop-Elektronenmikroskope im Überblick

Mit dem Phenom G2 pure steht ein Einstiegssystem zu einem äußerst attraktiven Preis zur Verfügung, das sich insbesondere an Kunden wendet, die die Elektronenmikroskopie zur Erweiterung der Möglich­keiten oberhalb der Lichtmikroskopie einsetzen möchten.

Das  Phenom G2 pro ist das derzeit leistungs­fähigste Desktop-Rasterelektronenmikroskop auf dem Markt. Es verfügt über eine Auflösung von < 3 nm. Softwareoptionen wie 3D Roughness und Fibermetric erweitern die Möglichkeiten bei der Auswertung von Oberflächen, Fasern und Poren im Submikrometer-Bereich.

Das neue Phenom proX repräsentiert das derzeit leistungsfähigste „All-in-One“-Desktop-System mit voll integrierter EDX-Analyse.

Die Phenom Desktop-Rasterelektronenmikroskope sind modular aufgebaut. Somit kann Ihr Phenom mit Ihren Anforderungen mitwachsen und exakt auf Ihre Anwendungen zugeschnitten werden.

Highlights

„All-in-One“-REM mit patentiertem, intuitivem Bedienkonzept

• Touchscreen
• Ultrakompakte Bauweise.
• Aufstellung in Büroumgebung möglich, unterliegt nicht der Röntgenverordnung.
• Standardmäßig integrierte, motorisierte X/Y-Probensteuerung.
• Ultraschnelle, vollautomatische Probenschleusung in weniger als 30 Sekunden.
• Integrierte Navigationskamera, die die Probe aus der selben Perspektive wie das REM aufnimmt, dadurch einfachste Navigation auch bei maximaler Vergrößerung.
• Bei „G2 pro“ und „pro X“ Navigationskamera als Farb-CCD Mikroskop mit 20x- bis 120x-Vergrößerung ausgelegt.

Hochwertige CeB6-Kathode mit sehr hoher Lebensdauer

• Hoher Richtstrahlwert ermöglicht rauscharme, hoch auflösende Bilder bei
  vergleichsweise niedriger Beschleunigungsspannung bei allen Vergrößerungen.
• Besonders geeignet zur Abbildung dünner Schichten.
• Signifikante Vorteile bei empfindlichen Proben (Organik, Polymere,…)

Charge Reduction Mode

• Der Aufladungseffekt wird durch ein kontrolliertes Verringern des Vakuums reduziert.
• Geeignet für isolierende Proben, wie Kunststoffe, Organik etc.
• Vakuumartefakte werden reduziert.
• Lebensdauer der Elektronenquelle wird durch CR-Mode nicht beeinträchtigt.

Hochwertiger BSE-4-Quadranten-Halbleiter-Detektor

• Hochauflösende, rauscharme Bilder auch bei niedriger Beschleunigungsspannung.
• Rauscharm auch im Charge-Reduction-Mode.
• Wichtig bei organischen und isolierenden Proben.
• Großes Sichtfeld im REM-Modus auch bei geringen Arbeitsabständen.
• Schärfentiefe bis 800 µm (je nach Arbeitsabstand).
• Blendfreie Aufnahmen von polierten oder hell glänzenden Oberflächen.
• Elementkontrast zur Unterscheidung von Elementen und Darstellung von Objektformen.
• Topografiekontrast zur Darstellung von feinsten Oberflächenstrukturen.

Vollintegrierte EDX-Analyse (nur Phenom pro X)

• Silicon Drift Detector (SDD) mit einer aktiven Fläche von 25 mm²
• Thermoelektrische Kühlung (kein Stickstoff erforderlich)
• Ultradünnes Siliziumnitrid-Fenster (Si₃N₄)
• Elementdetektion C ₍₆₎ bis Am ₍₉₅₎
• Zählrate bis 300.000 cps (counts per second)
• Multikanaldetektor mit 2048 Kanälen
• Automatische Peakidentifizierung
• Automatische Peakentfaltung
• Indikator für die Zuverlässigkeit der Messung

Umfangreiches Zubehör

• Charge Reduction Probenhalter
• Coolingstage (-25°C bis +50 °C)
• Tilt&Rotation-Probenhalter
• 3D Roughness REcostruction zur Visualisierung von Oberflächentopografien
• Fibermetric zur vollautomatischen Vermessung von nanoskaligen Poren und Fasern

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