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Ultraschnelle Element-Tiefenprofile mittels GD-OES

Jetzt mit direkter Messung von Schichtdicken, Erosionsraten und GD-Kratertiefen

GD Profiler 2 zur Element- und Schichtanalyse. Direkte Messung der Schichtdicke möglich...

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Sensitivstes Fluoreszenz Spektrometer mit neuen Optionen

Detektion im NIR jetzt auch beim Fluoromax-4 möglich

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