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Methoden zur Charakterisierung von Kolloiden und Grenzflächen
in Berlin vom 20.02.2012 - 24.02.2012Der einwöchige Kurs ist Teil einer Weiterbildung zur Instrumentellen Analytik, die sich das Ziel setzt, Hochschulabsolventen, Angestellte der Industrie und arbeitslose Akademiker mit den neuesten Möglichkeiten der modernen Analytik vertraut zu machen. Die Kurse vermitteln weiterbildende und vertiefende Kenntnisse zur Untersuchung und Charakterisierung komplexer Systeme, die an modernen Instrumenten praktisch umgesetzt werden. Die einzelnen, voneinander unabhängigen Kurse umfassen jeweils ein abgeschlossenes Themengebiet und schließen neben einführenden Vorlesungen intensive Praktika und Übungen in Kleingruppen ein. Die Praktika finden in den Forschungslaboren der beteiligten Arbeitsgruppen statt.
Die Weiterbildung richtet sich sowohl an Berufsanfänger und Berufstätige mit einem Abschluss in Chemie oder Physik, aber auch an Absolventen anderer Fachrichtungen, wie beispielsweise Materialwissenschaften.
Schwerpunkte des Kurses:
- Rheologie: Fließverhalten von Schichtsilikaten und hydrophob modifizierten Polymeren, viskoelastische Flüssigkeiten, Fließgrenzen
- Statische und Dynamische Lichtstreuung (SLS, DLS): Teilchengrößen, Größenverteilungen, Dynamik in komplexen, nanometrisch strukturierten Systemen
- Kraftspektroskopie - Colloidal Probe AFM: Wechselwirkung zwischen Grenzflächen
- Ellipsometrie: Bestimmung der Optischen Dicke von dünnen Filmen, Polymerfilme
- Präparation von Phospholipiddispersionen, von Tensidsystemen und dünnen Polymerfilme
- Praktika und Übungen
Der Kurs wird von der Europäischen Union gefördert (ESF).
| Veranstaltungsdatum: | 20.02.2012 bis 24.02.2012 | |
| Veranstaltungsort: |
Technische Universität Berlin, Institut für Chemie
Straße des 17. juni 135 10623 Berlin Deutschland |
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| Veranstalter: |
Technische Universität Berlin, Institut für Chemie, Sekr. TC9
Herr Dr. Gerd Hauck Straße des 17. Juni 124 10623 Berlin Deutschland
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