Das SPECTRO XEPOS stellt einen Quantensprung in der energiedispersiven Röntgenfluoreszenz-Technologie (ED-RFA/ED-XRF) dar. Es führt die neueste Generation von SPECTROs ED-RFA-Geräten an und ermöglicht bahnbrechende Fortschritte bei der Multi-Element-Analyse unterschiedlicher Konzentrationen – bis hin zu Spurenelementen. Durch neue Entwicklungen im Bereich Anregung und Detektortechnologie bietet das SPECTRO XEPOS eine außergewöhnliche Messempfindlichkeit und extrem niedrige Nachweisgrenzen – mit bemerkenswerter Verbesserung von Präzision und Genauigkeit.
Insbesondere bei anspruchsvollen Aufgaben spielt das SPECTRO XEPOS seine Stärken aus – egal ob es dabei um schnelle Übersichtsanalysen oder präzise Qualitätskontrolle geht. Es ist prädestiniert für den Einsatz in einer Vielzahl von Branchen, wie beispielsweise Geologie, Bergbau, Umwelt, Abfallüberwachung, Forschung und Wissenschaft.
Durch unterschiedliche Modellvarianten des SPECTRO XEPOS wird die Leistung für die jeweils relevanten Elementgruppen in den entsprechenden Matrices optimiert.