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Rasterelektronenmikroskope:

JEOL SEM Series

Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis

JEOL (Germany) GmbH

Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter

Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße

Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc)

Auf der Suche nach dem„One-and-only-Tool“ für viele Anwendungen?In JEOL’s REM-Welt werden Sie fündig

Ob Untersuchung neuer Mikrochips, Aufdecken komplizierter biologischer Strukturen, Polymerforschung, Asbest-, Schmauchspur- oder Schadensanalyse – mit der Entscheidung für ein modernes Rasterelektronenmikroskop von JEOL liegen Sie immer richtig!

Die von JEOL entwickelten REMs decken R&D-Anforderungen von nm- bis sub-nm-Bereich ideal ab. Mit Flexibilität und Optionsvielfalt und einer außergewöhnlich langen Lebensdauer eignen sich JEOL-Geräte perfekt in Qualitätssicherung und Produktentwicklung – in Industrie, Forschung und Lehre. Von unserem leistungsstärksten Flaggschiff-Feldemissions-REM mit ultimativer Auflösung, Vergrößerung und analytischer Flexibilität bis hin zum benutzerfreundlichen Tisch-REM der Einstiegsklasse bietet JEOL auch für Ihre Fragestellung das passende Messgerät.

Die jüngste Generation der JEOL-REMs verfügt über ein Höchstmaß an integrierter, intelligenter Technologie. Unsere JEOL-REMs der neuen Generation erleichtern die Datenerfassung für alle Probentypen. Automatisierungsgrad, Bedienbarkeit, schnelle, hochauflösende Bildgebung und Analyse werden Sie begeistern.

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Alle JEOL REMs lassen sich optimal an die jeweiligen Anwendungen anpassen und werden so jeder Anforderung gerecht.

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Feldemissions-REMs: JSM-IT800 Ultrahochauflösendes FEG-REM mit der fortschrittlichsten hochauflösenden Analysetechnologie, die heute verfügbar ist

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Das JSM-IT210 ist ein kompaktes Mikroskop mit automatisiertem Workflow, das neue User Schritt für Schritt von Probeneinsatz zum perfekten Bild führt.

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Hochauflösendes,vielseitiges FEG-REM mit großer Kammer. Intelligente, flexible und leistungsstarke Performance zu hervorragender Preis-Leistungs-Ratio

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Ausgeklügelte Technologie mit einfacher Bedienung bietet Nutzern aller Erfahrungslevel hervorragende REM-Bilder und Elementanalysen in wenigen Minuten

Erleben Sie dieses Produkt live auf der Messe

analytica
09.04.2024 - 12.04.2024 München | Halle A2, Stand 212

Produkteinordnung JEOL SEM Series

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Rasterelektronenmikroskope: JEOL SEM Series

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JEOL (Germany) GmbH
Alles zu JEOL

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