JEOL SEM Series
Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis
Ob Untersuchung neuer Mikrochips, Aufdecken komplizierter biologischer Strukturen, Polymerforschung, Asbest-, Schmauchspur- oder Schadensanalyse – mit der Entscheidung für ein modernes Rasterelektronenmikroskop von JEOL liegen Sie immer richtig!
Die von JEOL entwickelten REMs decken R&D-Anforderungen von nm- bis sub-nm-Bereich ideal ab. Mit Flexibilität und Optionsvielfalt und einer außergewöhnlich langen Lebensdauer eignen sich JEOL-Geräte perfekt in Qualitätssicherung und Produktentwicklung – in Industrie, Forschung und Lehre. Von unserem leistungsstärksten Flaggschiff-Feldemissions-REM mit ultimativer Auflösung, Vergrößerung und analytischer Flexibilität bis hin zum benutzerfreundlichen Tisch-REM der Einstiegsklasse bietet JEOL auch für Ihre Fragestellung das passende Messgerät.
Die jüngste Generation der JEOL-REMs verfügt über ein Höchstmaß an integrierter, intelligenter Technologie. Unsere JEOL-REMs der neuen Generation erleichtern die Datenerfassung für alle Probentypen. Automatisierungsgrad, Bedienbarkeit, schnelle, hochauflösende Bildgebung und Analyse werden Sie begeistern.
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JEOL SEM Series
Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis
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Messewelt analytica
Hier präsentieren innovative Aussteller Ihre Messe-Neuheiten, Premieren und Produktinnovationen zur analytica 2024.
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