Meine Merkliste
my.chemie.de  
Login  

Kondo-Effekt



Unter dem sogenannten Kondo-Effekt versteht man das anomale Verhalten des elektrischen Widerstands in Metallen mit magnetischen Störstellen.

1934 konnten Wander Johannes de Haas, Jan Hendrik de Boer und G. J. van de Berg (Physica (Utrecht) 1, 1115 (1934)) ein Minimum des elektrischen Widerstands einer Au-Probe messen, das mit dem ansonsten Phonon-dominierten Verhalten nicht vereinbar war. Jun Kondo konnte 1964 (Progress of Theoretical Physics, Vol. 32, Seite 37, 1964) störungstheoretisch zeigen, dass der elektrische Widerstand für tiefe Temperaturen aufgrund magnetischer Störstellen logarithmisch divergiert, da die Leitungselektronen an lokalisierten magnetischen Elektronen gestreut werden. Dieser Effekt ist für die Entstehung eines Widerstandsminimums verantwortlich. Die Temperaturabhängigkeit des elektronischen Widerstandes einschließlich des Kondo-Effekts wird wie folgt geschrieben:

\rho(T) = \rho_0 + aT^2 + c_m \ln\frac{\mu}{T} + bT^5.

Dabei ist ρ0 der Restwiderstand, aT2 der Beitrag der Fermi-Flüssigkeit und der Term bT5 beschreibt den Widerstandsanteil, der durch die Elektron-Phonon-Wechselwirkung hervorgerufen wird.

Jun Kondo hat die logarithmische Abhängigkeit abgeleitet. Das Zusammenbrechen der Störungstheorie unterhalb der sogenannten Kondotemperatur wird als Kondoproblem bezeichnet und konnte in späteren Ansätzen durch das sogenannte Poor man's scaling von (P. W. Anderson, 1970) gelöst werden, um den endlichen Grenzwert des Widerstands für Temperaturen nahe dem absoluten Nullpunkt zu erklären. Der Poor man's scaling Ansatz von Anderson war zunächst eine Hypothese und wurde erst von (K.G. Wilson, 1974) durch Numerische Renormierungsgruppen verifiziert.

 
Dieser Artikel basiert auf dem Artikel Kondo-Effekt aus der freien Enzyklopädie Wikipedia und steht unter der GNU-Lizenz für freie Dokumentation. In der Wikipedia ist eine Liste der Autoren verfügbar.
Ihr Bowser ist nicht aktuell. Microsoft Internet Explorer 6.0 unterstützt einige Funktionen auf ie.DE nicht.