Materialforschung neu gedacht – Wie Sie mit Raman-Imaging die Oberflächenanalyse voranbringen

Die konfokale Raman-Mikroskopie ermöglicht eine detaillierte und nicht-destruktive Analyse von Halbleitern, Partikeln oder 2D-Materialien. Sie kann chemische oder strukturelle Eigenschaften wie Materialverteilung, Kristallinität, Spannung und Dotierung sichtbar machen. Korrelative Techniken wie z. B. Photolumineszenz-Untersuchungen liefern zusätzliche Informationen über die Bandlücke eines Halbleiters. In Kombination sind diese Analysen besonders wertvoll für Verbindungshalbleiter, da diese häufig aus mehreren Schichten und komplexen Strukturen bestehen. Anwendungen für die Partikelanalyse finden sich beispielsweise in der Charakterisierung von Mikroplastik oder pharmazeutischen Verbindungen. Forschende in der Entwicklung fortschrittlicher Materialien profitieren von einer umfassenden korrelativen Analyse der Oberflächeneigenschaften. Das Anwendungs-E-Book hebt die Vorteile der Technik hervor und zeigt im Detail, wie sich neue Erkenntnisse für Anwendungen in der Materialforschung gewinnen lassen.