Verifiziert
NEXSA
Vollautomatisiertes Multi-Methoden-Oberflächenanalysesystem, das Ihre Forschung voranbringt
Schnelle, effiziente XPS und andere Spektroskopien: Hochempfindliche Analyse kleiner Flächen
Avantage-Software: Datenerfassung, Analyse und Korrelation mit der Elektronenmikroskopie
In situ Probenbehandlung: NX-Heiz- und Bias-Modul für fortgeschrittene Experimente
Effiziente Workflows mit XPS, UPS, ISS, REELS und Raman-Spektroskopie
Das neue Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 Oberflächenanalysesystem ist ein vollautomatisiertes XPS-Gerät, das zusätzliche Analysemethoden nahtlos integriert und Ihr Verständnis für ein breites Spektrum von Probentypen wie Mikroelektronik, Polymere, Katalysatoren oder Biomaterialien voranbringt. Die Nexsa G2 wurde entwickelt, um fortgeschrittene Oberflächenanalyse mit intelligenter Automatisierung und leistungsstarker Software zu vereinfachen. Tiefenprofilierung, sei es mit der Standard-Ionenquelle oder mit MAGCIS, der optionalen kombinierten monatomaren und Gas-Cluster-Ionenquelle, ermöglicht Ihnen die Untersuchung der Chemie von tieferliegenden Schichten und Zwischenschichten. Hinsichtlich in-situ, d. h. unter UHV, Probenbehandlung, stehen Ihnen die neue NX-Probenheizung sowie das 4-Punkt-Bias-Modul zur Verfügung. Letzteres ermöglicht elektrochemische Oberflächenuntersuchungen.
Die Avantage-Software garantiert nicht nur die Erfassung und Analyse von Daten in Spitzenqualität, sondern bietet weitere Funktionen wie die Korrelation mit REM Daten.
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Oberflächenanalyse-Systeme: NEXSA
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