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NEX DE VS

Hochleistungsfähiges Röntgenfluoreszenz-Spektrometer für präzise und schnelle Elementanalysen

Applied Rigaku Technologies, Inc.

Das Rigaku NEX DE VS ist ein hochleistungsfähiges energiedispersives Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (EDRFA) mit direkter Anregung, das schnelle, zerstörungsfreie qualitative und quantitative Elementanalysen im Bereich Natrium (Na) bis Uran (U) in Verbindung mit der Möglichkeit zur Analyse mit kleinen Messflecken bietet. Es ermöglicht ein breites Spektrum von Anwendungen und ist ideal geeignet zur Messung von Elementkonzentrationen im niedrigen ppm-Bereich bis hin zu hohen Gewichtsprozentkonzentrationen. Es eignet sich hervorragend für die Exploration, Forschung, RoHS-Prüfung, Ausbildung, Forensik sowie Industrie- und Produktionsüberwachung.

Wenn Analysezeit oder Probendurchsatz entscheidend sind, liefert das NEX DE VS leistungsstarke Ergebnisse. Es verfügt über eine 60 kV, 12 W Röntgenröhre, ein- und mehrschichtige Röhrenfilter und einen Hochleistungs-Silizium-Drift-Detektor (SDD), der Zählraten von über 500.000 cps unterstützt. Die hohen Zählraten sorgen für niedrige Nachweisgrenzen und eine hervorragende spektrale Auflösung. Mit verschiedenen austauschbaren automatischen Probenwechslern lassen sich Messungen mit hohem Durchsatz durchführen. Dank dieser Eigenschaften liefert das NEX DE VS hochpräzise Analyseergebnisse mit kürzesten Messzeiten. Das NEX DE VS ist für die schnelle und intuitive Gerätesteuerung mit der Rigaku QuantEZ®-Software ausgestattet. Die gute Menüführung und die EZ Analyse-Schnittstelle vereinfachen Routinevorgänge und unterstützen die Erstellung neuer Anwendungen mit Hilfe eines Assistenten.

Für die Analyse kleiner Flecken verfügt das NEX DE VS über eine hochauflösende Kamera und automatische Kollimatoren, die eine präzise Positionierung der Proben für die Analyse von 1 mm, 3 mm und 10 mm großen Flecken ermöglichen. Die große Probenkammer des Geräts nimmt Proben mit einem Durchmesser von bis zu 30 cm und einer Höhe von bis zu 10 cm auf. Die Schnittstelle für die Spotanalyse sowie die integrierte Kamera ermöglichen eine einfache Probenpositionierung für Messungen kleiner Flächen oder Strukturen. Das NEX DE VS ist ein ausgezeichnetes System zur Messung von Beschichtungen auf kleineren Teilen, das Screening kleiner Proben z.B. von Elektronikschrott oder die Untersuchung zur Identifizierung von Fremdkörpern unbekannter Zusammensetzung.

Ob in der Produktion oder im QC-Labor, das NEX DE VS bietet eine unvergleichliche Leistung für die Massen- sowie Kleinstmengenanalyse. Die überragende analytische Leistung, die Flexibilität und die Benutzerfreundlichkeit machen das Gerät für ein immer breiteres Spektrum von Anwendungen attraktiv, einschließlich der grundlegenden Qualitätskontrolle (QC), der analytischen Qualitätskontrolle (AQC), der Qualitätssicherung (QS) oder der statistischen Prozesskontrolle wie Six Sigma.

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