SmartLab

Rigakus Flaggschiff, das 9 kW SmartLab, ist das leistungsstärkste laborgestützte XRD-Gerät auf dem Markt und die leistungsstärkste Option außerhalb von Synchrotrons. Der hohe Flux in Kombination mit hoher Auflösung, Flexibilität, einer Reihe von Optionen und einfacher Bedienung machen es zum Diffraktometer der Wahl für Forscher und Industriekunden, die ein zukunftssicheres High-End-Forschungsinstrument suchen, das in einer Vielzahl von Anwendungsbereichen Analysen mit hohem Durchsatz ermöglicht. Das Rigaku SmartLab, das auch mit Rigakus patentiertem In-Plane-Arm erhältlich ist, ist die beliebteste Wahl für Zinnschichtforscher.

Wesentliche Merkmale

• Hoher Fluss - 9kW (3kW auch verfügbar)
• In-Plane-Arm für die Dünnschichtanalyse (5-Achsen-Goniometer)
• HyPix-3000 0D/1D/2D HPAD-Detektor
• CBO-Optik - vollautomatisch umschaltbarer Strahl CBO-Auto
• SmartLab Studio II Software mit Guidance
• Große Auswahl an Aufsätzen und Probentischen mit automatischer Erkennung
• Automatische Ausrichtung

Röntgenquelle mit rotierender Anode

Die 9-kW-Feinfokusquelle bietet einen etwa 7-mal höheren Fluss als eine herkömmliche versiegelte Röhre (bei 40 kV und 40 mA), wodurch Sie feinere Details in kürzeren Messzeiten erkennen können. Darüber hinaus hat die neueste Generation der Rotationsanode von Rigaku, der PhotonMax, eine 3-mal längere Lebensdauer als sein Vorgänger, was die Betriebszeit maximiert und die Wartungs- und Betriebskosten minimiert.

HyPix-3000 HPAD-Detektor

Der HyPix-3000 multidimensionale Halbleiterdetektor:

• Unterstützt 0D, 1D und 2D Messmodi
• Hervorragende Energieauflösung zur Unterdrückung von XRF
• Hält das Hintergrundrauschen auf einem absoluten Minimum
• Großer dynamischer Bereich
• Shutterlose Messung
• Wartungsfrei

Messmodi/Applikationen

Das SmartLab ermöglicht eine breite Palette von Messmodi und Anwendungen, darunter:

• Pulver
• Stress
• 2D SAXS, WAXS und GI-SAXS
• Mikro-XRD
• Dünnschicht
• Reflexion/Transmission
• Textur
• RDF - Radiale Verteilungsfunktion
• Analyse der Eigenspannung
• Polfigur und ODF - Orientierungsverteilungsfunktion
• In situ/Operando-Messung