Verifiziert
FT-IR-Mikroskope:
LUMOS II
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit
Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult
Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Das LUMOS II ist ein zuverlässiges und anwenderfreundliches FT-IR-Mikroskop, das vor allem Wert auf intuitive Bedienung legt. Es liefert exzellente visuelle und spektrale Datenqualität in Transmission, Reflexion und ATR und ist zudem komplett automatisiert für höchste Präzision. Ergebnisse per Mausklick – smart, eindeutig, einfach. Als weltweit erstes IR-Mikroskop bietet es Hochauflösung, ohne eine aufwändige Kühlung durch flüssigen Stickstoff zu benötigen. Darüber hinaus kann es mit Brukers exklusiver Focal-Plane-Array (FPA) Detektortechnologie ausgestattet werden, die es Ihnen ermöglicht, detaillierte chemische Bilder in kürzester Zeit anzufertigen. Neben der Geschwindigkeit punktet das FT-IR Mikroskop durch Anwenderfreundlichkeit und die intuitive Datenverarbeitung Das LUMOS II ist perfekt abgestimmt auf Anwendungen in den Bereichen Fehleranalyse, Qualitätskontrolle, Partikelanalyse, Mikroplastik, Kunststoffe, Plastik, Polymere, Biologie, Life-Science, Elektronik, Automotive, Oberflächenanalytik und Pharmazeutika. Unser Produktvideo zeigt das LUMOS II FT-IR-Mikroskop im Einsatz.
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Produkteinordnung LUMOS II
Anwendungen
Produktkategorien
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FT-IR-Mikroskope: LUMOS II
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Themenwelt Partikelanalyse
Die Methoden der Partikelanalyse erlaubt es uns, winzige Partikel in verschiedenen Materialien zu untersuchen und ihre Eigenschaften zu enthüllen. Ob in der Umweltüberwachung, der Nanotechnologie oder der pharmazeutischen Industrie – die Partikelanalyse eröffnet uns einen Blick in eine verborgene Welt, in der wir die Zusammensetzung, Größe und Form von Partikeln entschlüsseln können. Erleben Sie die faszinierende Welt der Partikelanalyse!
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