Mit Strahlen zeigen, was sonst verborgen bleibt

Freiburger Materialwissenschaftler gewinnt Forschungspreis auf dem Gebiet der Halbleiter-Röntgendetektoren

22.12.2010 - Deutschland

Der Freiburger Materialforscher PD Dr. Michael Fiederle ist mit dem „Room Temperature Semiconductor Detector (RTSD) Award“ ausgezeichnet worden. Der Preis würdigt außergewöhnliche wissenschaftliche Beiträge zum Thema Halbleiter-Röntgendetektoren. Der RTSD-Award wurde Fiederle im November auf der internationalen Tagung „Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference 2010“ in Knoxville/USA verliehen.

Der RTSD-Lenkungsausschuss ehrte Fiederle insbesondere für dessen Engagement, die Materialeigenschaften von Halbleiter-Röntgenstrahlen-Detektoren zu erforschen und deren Technologie für bildgebende Verfahren weiter zu entwickeln und zu prüfen. Detektoren für Röntgen-, Gamma- oder Neutronenstrahlung werden in der Inneren Sicherheit, Astrophysik, Medizin sowie im Umweltschutz eingesetzt. Gamma-Strahlen-Detektoren erkennen zum Beispiel an Grenzübergängen, wenn jemand radioaktives Material über die Grenze schmuggeln will.

Michael Fiederle und sein Team vom Freiburger Materialforschungszentrum (FMF) haben auf dem Gebiet Medizintechnik und Zerstörungsfreie Prüfverfahren (Non-Destructive Testing/NDT) innovative Detektorsysteme auf Basis der so genannten Medipix-Pixelelektronik entwickelt. Diese Systeme ermöglichen erstmals Röntgenbilder mit hoher Auflösung in den farblich hervorgehobenen Arealen (Coloured X-ray Imaging). Neben 3D-Bildern für die medizinische Diagnostik ist die Umweltradioaktivität ein weiterer Forschungsschwerpunkt der Wissenschaftler. So entwickelten sie kürzlich in Zusammenarbeit mit dem Bundesamt für Strahlenschutz ein Detektorsystem zur spektroskopischen Überwachung der Radioaktivität in der Atmosphäre. Es soll bundesweit an mehr als 2.000 Messstationen eingesetzt werden.

Fiederle ist Dozent an der Albert-Ludwigs-Universität Freiburg und leitet die Servicegruppe „Materialcharakterisierung und Detektortechnologie“ am FMF.

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