ICP-OES-Plasmabetrachtungs-Techniken im Vergleich: Axial, Radial, Dual, MultiView und das neue Dual Side-On

Dieses Whitepaper erläutert in Kurzform die verschiedenen Möglichkeiten der Plasmabetrachtung und geht auf die jeweiligen Stärken und Schwächen der Technologien ein.

In dem Dokument wird die grundsätzliche Funktionsweise der Technologien dargestellt und erklärt, warum das Plasmabetrachtungsinterface ein wesentliches Auswahlkriterium bei der Auswahl des für den jeweiligen Anwendungsfall bestmöglichen Spektrometers darstellt.
Darüber hinaus stellt dieser Bericht aktuelle technologische Entwicklungen im Bereich der Plasmabetrachtung - wie Dual Side-On - vor, welche die bisherige Lehrmeinung verändern und Entscheidungen hinsichtlich der Wahl der Technik beeinflussen dürften.