18.06.2015 - VDI Verein Deutscher Ingenieure e.V.

Neue VDI-Richtlinien zu optischen Technologien

VDI/VDE 3511 Blatt 4.5 zu berührungsloser Temperaturmessung und VDI/VDE 5575 Blatt 2 und Blatt 10 zu röntgenoptischen Systemen erschienen

Strahlungsthermometer kommen bei zahlreichen industriellen Prozessen zum Einsatz, wenn Temperaturen berührungslos zur Prozesskontrolle oder -regelung gemessen werden müssen. So beispielsweise bei der Stahlherstellung, der Glasproduktion, der Kunststoffverarbeitung oder auch bei der Müllverbrennung. Die neue Richtlinie VDI/VDE 3511 Blatt 4.5 beschreibt wesentliche Einflussgrößen auf die Messgenauigkeit, die bei der Anwendung von Strahlungsthermometern beachtet werden müssen und erklärt deren Auswirkungen für einen typischen Anwendungsfall.

Die Richtlinie VDI/VDE 3511 Blatt 4.5 gibt zudem Hinweise zur Auswahl des geeigneten Wellenlängenbereichs für die berührungslose Temperaturmessung. Mit typischen Emissionsgraden wichtiger Werkstoffe für unterschiedliche Wellenlängenbereiche wird der Weg zur präzisen Messung erleichtert. Der Einfluss der Temperatur des Messobjekts, der Messfeldgröße und der Einstellzeit auf die erreichbare Temperaturauflösung wird ebenfalls dargestellt.

Herausgeber der Richtlinie VDI/VDE 3511 Blatt 4.5 „Technische Temperaturmessung; Strahlungsthermometrie; Praktische Anwendung von Strahlungsthermometern“ ist die VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik.

Richtlinien zu röntgenoptischen Systemen

Ebenfalls neu erschienen sind zwei Richtlinien zu röntgenoptischen Systemen. VDI/VDE 5575 Blatt 2 „Röntgenoptische Systeme; Messverfahren; Messaufbau und Methoden zur Bewertung röntgenoptischer Systeme“ stellt Verfahren zur Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von Röntgenstrahlung und zur spektralen Analyse vor. Für die unterschiedlichen Messaufgaben werden jeweils geeignete Positionier- und Detektorsysteme aufgeführt. Eine Übersicht über gebräuchliche Röntgenquellen, mit den für die Vermessung relevanten Eigenschaften, vervollständigt die Richtlinie.

Blatt 10 der VDI/VDE 5575 „Röntgenoptische Systeme; Beugungsgitter“ führt in die physikalischen Grundlagen mit Gittergleichung, Dispersion und Winkelvergrößerung ein. Die verschiedenen Typen von Beugungsgittern zur spektralen Zerlegung von Röntgenlicht werden hier beschrieben. Dabei stellt die Richtlinie Verfahren zur Bestimmung der Struktureigenschaften, insbesondere der Furchendichte, vor.

Beide Blätter der Richtlinie VDI/VDE 5575 sind ebenfalls ab sofort als deutsch/englische Ausgabe beim Beuth Verlag erhältlich.

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