QICPIC/S | PICTOS & Co.

Bewährte Technologie trifft auf eine umfassend weiterentwickelte Systemplattform. Mit QICPIC/S erhält die dynamische Bildanalyse eine neue technische Basis, die eine detaillierte Partikelerfassung mit hoher Messgeschwindigkeit und flexiblen Möglichkeiten der Probencharakterisierung verbindet. Eine neue Kamerageneration, optimierte Präzisionsobjektive und erweiterte Funktionen der Bildauswertung schaffen die Voraussetzungen, unterschiedlichste Partikelsysteme zuverlässig und differenziert zu analysieren.

Die höhere Bildauflösung ermöglicht eine detailreichere Erfassung von Partikelkonturen und unterstützt damit insbesondere die präzise Bestimmung von Größen- und Formparametern. Gleichzeitig sorgt das größere Sichtfeld dafür, dass mehr Partikel innerhalb einer Aufnahme erfasst werden können. In Verbindung mit hohen Bildraten lassen sich so große Partikelzahlen innerhalb kurzer Messzeiten analysieren und eine breite statistische Basis für die Auswertung schaffen.

Abhängig von der jeweiligen Messaufgabe können Auflösung, Erfassungsbereich und Bildrate flexibel aufeinander abgestimmt werden. Damit eignet sich QICPIC/S sowohl für die detaillierte Betrachtung feiner Partikelstrukturen als auch für Messungen, bei denen hohe Partikelzahlen in kurzen Analysezeiten im Vordergrund stehen. Erweiterte Möglichkeiten der Bildauswertung unterstützen darüber hinaus die differenzierte Analyse anspruchsvoller Partikelsysteme, beispielsweise durch eine verbesserte Trennung benachbarter Partikel.

Das modulare Systemkonzept ermöglicht weiterhin die Kombination mit unterschiedlichen Lösungen zur Trocken- und Nassdispergierung. Mit QUIXEL ergänzt eine neue Lösung für die Nassdispergierung das QICPIC/S-System und erweitert die Möglichkeiten einer flexiblen Probencharakterisierung.

Welche technischen Weiterentwicklungen dahinterstehen und wie sich die neuen Möglichkeiten in der Praxis nutzen lassen, zeigen wir erstmals auf der POWTECH TECHNOPHARM. Besucher können QICPIC/S und QUIXEL dort live erleben und sich über geeignete Messkonfigurationen für ihre jeweiligen Anwendungen informieren.